膜厚測試儀
采用非接觸式測量,對印制過程中的印刷膜層厚度進行精密測量
采用非接觸式測量,對印制過程中的印刷膜層厚度進行精密測量
掃描式印刷膜厚測試儀采用非接觸式測量方法,對印制過程中的印刷膜層厚度進行精密測量。測量時采用非接觸式光源(波長650nm)進行無損探測,不損壞印刷膜層表面,可有效的監測印刷膜層厚度,為改善印刷膜層監控水平提供準確的數據支持。測量方式可以編輯,可進行自動單線掃描測量、多線掃描測量、固定多點測量等多種模式。主機部分利用強大的控制軟件,對采集的數據可進行精準計算和分析。
性能名稱 | 技術指標 |
---|---|
最大測量尺寸 | 100mm×100mm(可定制) |
探頭X/Y軸定位分辨率 | 1μm |
探頭X/Y軸定位精度 | <±10μm |
探頭X/Y軸定位重復性 | <3μm |
探頭Z(垂直)軸微調定位分辨率 | 1μm |
被測膜片厚度范圍 | (0~10)mm |
測量精度 | ±10° |
θ向分辨率 | ±1μm |
測試分辨率 | 0.5μm |
最大測試速度 | 500ms/點 |